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濟南微納顆粒儀器受邀參加中國顆粒學會第十屆學術年會
來源：
作者：
濟南微納
2018年8月9日，中國顆粒學會第十屆學術年會暨海峽兩岸顆粒技術研討會在歷史悠久的沈陽市舉行，本屆會議由中國顆粒學會、中國科學院金屬所、 清華大學、大同大學（臺北）共同主辦，作為顆粒測試領域及國內激光粒度儀研發(fā)的先驅品牌，濟南微納顆粒儀器受邀參會。
8月10日下午，在顆粒的測試與表征分會場，微納顆粒創(chuàng)始人任中京教授現(xiàn)場講解《激光粒度分析儀多次散射補償技術研究》的研究報告。激光粒度分析儀多次散射補償技術的研究的意義就是提高激光粒度儀測試的精度，消除激光多次散射對顆粒測試結果帶來的影響，闡述了微納顆粒研發(fā)的補償技術可有效改善大顆粒寬分布顆粒群的粒度分布的測試精度，并且該技術已經(jīng)成熟運用到微納研發(fā)的Winner系列激光粒度儀中。
作為國內激光粒度儀行業(yè)研發(fā)的先驅者，微納顆粒一直在顆粒測試技術領域潛心鉆研，把創(chuàng)新技術運用到儀器，并成熟落地到項目。
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